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颗粒物源解析成分监测

IntelliSEM EPAS 智能扫描电镜环境颗粒物分析系统

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产品信息

  • 中文名称:IntelliSEM EPAS 智能扫描电镜环境颗粒物分析系统
  • 型号:IntelliSEM EPAS
  • 原产地:
  • 品牌:RJ Lee Group
  • 标签:
  • 监测方法:智能扫描电镜法

详情介绍

自动、快速、功能(neng)强大的环境颗粒物表征分析(xi)

RJ Lee Group 简介:

       RJ Lee Group以(yi)(yi)行业领导者(zhe)的(de)(de)(de)身份服务(wu)于环境科学(xue)、材料表征、法(fa)医工(gong)程(cheng)、信息管理等领域,并提(ti)供创(chuang)新解决方案,以(yi)(yi)科学(xue)专长、仪器、技术、合作精神激发(fa)研究并解决复(fu)杂(za)问题。除了实(shi)验(yan)室和咨询业务(wu),RJ Lee Group拥有长达40年的(de)(de)(de)持续研发(fa)、使用(yong)扫(sao)描电(dian)镜(jing)(jing)经(jing)验(yan),形成一套(tao)准(zhun)确、可靠(kao)、直观的(de)(de)(de)IntelliSEM软件系(xi)统,其(qi)经(jing)验(yan)的(de)(de)(de)广度(du)与深(shen)度(du)无(wu)人匹(pi)敌(di),IntelliSEM中(zhong)凝聚了大(da)量的(de)(de)(de)计算机控制扫(sao)描电(dian)镜(jing)(jing)系(xi)统的(de)(de)(de)专业知识和经(jing)验(yan)。

系统概要:

       RJLee实验室(RJ Lee Group)研发(fa)的智能(neng)扫描电(dian)镜环境颗粒物(wu)分析系统(IntelliSEM EPAS,Enviromental Particle Analysis System)将智能(neng)控制技术(shu)和专(zhuan)业数据分析计算方法(fa)与(yu)扫描电(dian)镜-能(neng)谱仪(yi)(SEM-EDS)相(xiang)结合,可以自(zi)动、准确、快速地对环境样(yang)品(pin)中的大(da)批量单(dan)颗粒进(jin)行表征分析,为用户提(ti)供丰富的专(zhuan)业软件工具,具备对数据进(jin)行可视化分析、挖掘与(yu)管理的强大(da)功能(neng)。 

       IntelliSEM EPAS系(xi)统的(de)(de)独特(te)技术优(you)势在于(yu)兼具(ju)分析(xi)(xi)广度和深度于(yu)一(yi)体,具(ju)备每小时分析(xi)(xi)数(shu)(shu)万个单(dan)颗(ke)粒的(de)(de)快速(su)分析(xi)(xi)时间(jian)效(xiao)率,完整获(huo)取和记录每个颗(ke)粒物(wu)的(de)(de)几(ji)何(he)形状、能谱以及数(shu)(shu)字影像信息(xi),据此,可以较(jiao)高的(de)(de)统计置信度获(huo)得环(huan)境样品的(de)(de)整体特(te)征,并深入探究(jiu)每个单(dan)颗(ke)粒的(de)(de)细节(jie)特(te)征。

系统应用:

* PM10、PM2.5、PM10-2.5、超细(xi)颗粒物的(de)表征研究;

* 扬(yang)尘研究;

* 环境(jing)颗粒物中(zhong)金属的识别;

* 环(huan)境颗粒物中(zhong)飞灰的识(shi)别;

* 碳颗粒物(煤(mei)烟、生(sheng)物、煤(mei))形(xing)态研(yan)究(jiu);

* 颗粒物长距离(li)传(chuan)输研(yan)究;

* 土壤中金属的生物(wu)可利用率评估;

* 点源和无组织面源排放特征的(de)研(yan)究(jiu);

* 颗粒物(wu)源解析(受体模(mo)型)研究;

* UNC被(bei)动(dong)采样器样品(pin)的分析;


系统特点(dian):

* 为环境颗粒物分析量(liang)身定做的软件包;

* 极强的颗粒(li)物分析功能,快速获取大量(liang)单颗粒(li)物的表征分析数(shu)据和统计分析结果;

* 智能化的扫描电(dian)镜-能谱仪分析操作:

> 一键选择(ze)设置分析参(can)数:亮度/对比度、聚焦(jiao)、阈值(zhi)等,无(wu)需用户干(gan)预(yu);

> 实时监测(ce)、调准仪器,实现扫描电(dian)镜和能谱仪的全自动化分析运行;

> 自动存储每个(ge)颗粒物的(de)图(tu)像、光谱、测量(liang)数(shu)据;

> 对X射线检(jian)测器进行自动校准和(he)性能检(jian)测;

> 采用图像分析技术(shu)进行(xing)颗粒物快速检测和(he)精(jing)确(que)测量;

> 采(cai)用(yong)统计算法进行瞬时元素识别和定量;

> 颗粒物分析数据(ju)的实时分类、排序;


* 远程(cheng)控制和(he)远程(cheng)分析操作;

* 无缝控制(zhi)和远(yuan)程再定位特定的颗粒以便(bian)进一步的详尽分析;

* 利用IntelliSEM工作台对颗粒(li)物分析数据进行汇总处理/可视化“后分析”;

> 进行(xing)“离线”电子显微分析;

> 对已存储的(de)颗(ke)粒物图像/光谱数据进行统计处理和显示图表;

> 在样(yang)品(pin)总览图(tu)像上,以交互式操作方式显示颗粒物的全部(bu)分析数据;


系统组成:

      勘(kan)(kan)(kan)察者(zhe)(zhe)——在线(xian)数(shu)(shu)据(ju)(ju)/图像(xiang)采集与分(fen)析(xi)模(mo)块。其功能(neng)(neng)是实(shi)现对扫(sao)描电(dian)镜(SEM)和(he)X射线(xian)能(neng)(neng)谱(pu)仪(EDS)的(de)(de)(de)全自动(dong)控制,使(shi)用(yong)智(zhi)能(neng)(neng)算法(fa)快速大(da)面(mian)积扫(sao)描样品(pin)区(qu)域,并精细测定每个(ge)颗(ke)粒(li)(li)物(wu)的(de)(de)(de)边(bian)界(jie)。在对颗(ke)粒(li)(li)物(wu)几何尺寸进行精确测量的(de)(de)(de)基础上,“勘(kan)(kan)(kan)察者(zhe)(zhe)”收(shou)集和(he)存(cun)储(chu)每个(ge)颗(ke)粒(li)(li)物(wu)的(de)(de)(de)高倍率数(shu)(shu)字影(ying)像(xiang),依据(ju)(ju)能(neng)(neng)谱(pu)分(fen)析(xi)数(shu)(shu)据(ju)(ju)计算单(dan)颗(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)化学(xue)元(yuan)素组成,并将原始能(neng)(neng)谱(pu)数(shu)(shu)据(ju)(ju)和(he)处理(li)结果存(cun)储(chu)到(dao)数(shu)(shu)据(ju)(ju)库中。“勘(kan)(kan)(kan)察者(zhe)(zhe)”的(de)(de)(de)智(zhi)能(neng)(neng)算法(fa)能(neng)(neng)够保(bao)证最(zui)佳的(de)(de)(de)数(shu)(shu)据(ju)(ju)采集时间(jian)和(he)分(fen)辨率,以满足精确测量和(he)快速分(fen)析(xi)的(de)(de)(de)要求(qiu)。“勘(kan)(kan)(kan)察者(zhe)(zhe)”有两种操(cao)作模(mo)式(shi)(shi):“专家模(mo)式(shi)(shi)”和(he)“一(yi)键(jian)模(mo)式(shi)(shi)”,前者(zhe)(zhe)允许(xu)专业用(yong)户(hu)指(zhi)定和(he)微(wei)调数(shu)(shu)据(ju)(ju)采集的(de)(de)(de)各参(can)数(shu)(shu)选项,后(hou)者(zhe)(zhe)则为用(yong)户(hu)提供一(yi)个(ge)标(biao)准参(can)数(shu)(shu)设置方案,最(zui)大(da)限(xian)度地(di)简(jian)化了用(yong)户(hu)操(cao)作。

      工(gong)作台(tai)——数(shu)(shu)据(ju)(ju)(ju)汇总处(chu)理(li)(li)及可(ke)视(shi)化“后分析”模块。在工(gong)作台(tai)上,可(ke)以(yi)(yi)将“勘(kan)察者”采(cai)集的(de)(de)(de)原始数(shu)(shu)据(ju)(ju)(ju)转化为用户需要的(de)(de)(de)分析结(jie)果,并通(tong)过丰(feng)富(fu)的(de)(de)(de)表(biao)格(ge)、图(tu)形、影像(xiang)展示出来,以(yi)(yi)更好地解(jie)释(shi)和(he)(he)理(li)(li)解(jie)数(shu)(shu)据(ju)(ju)(ju)。平(ping)台(tai)提供的(de)(de)(de)工(gong)具(ju)包(bao)括:表(biao)单化的(de)(de)(de)表(biao)格(ge)——展示每个单颗粒(li)的(de)(de)(de)所有(you)信息;总览(lan)图(tu)——将所有(you)的(de)(de)(de)图(tu)像(xiang)、几何和(he)(he)能谱(pu)数(shu)(shu)据(ju)(ju)(ju)等融合拼(pin)接(jie)结(jie)合为单一的(de)(de)(de)多层的(de)(de)(de)蒙太奇整体样品视(shi)图(tu);系(xi)列(lie)化的(de)(de)(de)图(tu)形工(gong)具(ju)——生成各种两相(xiang)、三相(xiang)图(tu)及数(shu)(shu)据(ju)(ju)(ju)表(biao);查询和(he)(he)分类——便于(yu)(yu)将颗粒(li)物分类,用于(yu)(yu)研究(jiu)和(he)(he)制作报告。“工(gong)作台(tai)”可(ke)安(an)装(zhuang)于(yu)(yu)任(ren)何可(ke)以(yi)(yi)访(fang)问数(shu)(shu)据(ju)(ju)(ju)库的(de)(de)(de)电脑(nao)上,用户可(ke)通(tong)过网络远程(cheng)访(fang)问和(he)(he)处(chu)理(li)(li)样品分析数(shu)(shu)据(ju)(ju)(ju)。“工(gong)作台(tai)”的(de)(de)(de)功能之强大,就如同在笔记本电脑(nao)上安(an)装(zhuang)了一个扫描电镜-能谱(pu)仪(yi)系(xi)统。

      数(shu)据库(ku)/图(tu)像存(cun)储——存(cun)储来自“勘察(cha)者(zhe)”所有数(shu)据的(de)大(da)脑(nao)。将强大(da)的(de)关联(lian)数(shu)据库(ku)与网(wang)络存(cun)储相结合,任何安装有“工作台”的(de)计算机(ji)都可以在联(lian)网(wang)状态(tai)下调用数(shu)据库(ku)中的(de)全部数(shu)据和图(tu)像,IntelliSEM数(shu)据存(cun)储方法(fa)灵活而强大(da)-支持多个数(shu)据库(ku),并且该结构可容纳几乎无限(xian)量的(de)数(shu)据,这种方法(fa)还有助于高效的(de)数(shu)据分级(ji)备份。


IntelliSEM EPAS系统的样品分析流程:

* 扫描电镜获(huo)取的灰度影像用于检出颗粒(li)物;

* 生成每个粒(li)子(zi)的单颗粒(li)影像(xiang);

* 对每个单(dan)颗(ke)粒进行45次箱形测量,得到(dao)90个直(zhi)径数据;

* 进行能谱(EDS)测(ce)量获得单颗粒的元素组(zu)成;

* 完(wan)成分析操(cao)作后,在“工作台”上对(dui)数据进行(xing)解析处理;


样品采集【UNC被动采样器】

     IntelliSEM EPAS系统的样品采(cai)(cai)集(ji)采(cai)(cai)用(yong)UNC被动采(cai)(cai)样器(qi)进行,该采(cai)(cai)样器(qi)采(cai)(cai)用(yong)北卡罗来纳大学(xue)技术(shu),主要以重力沉(chen)降的被动采(cai)(cai)样方(fang)式收集(ji)PM2.5、PM10、PM10-2.5 样品。其独特的设计(ji)非常适合用(yong)于电镜分析。

* 专利技术

* 与FRM采样器(qi)具有(you)非常(chang)好的(de)一致性(xing)

* 全球广泛(fan)应用* 


服务领域(yu):

* 环境(jing)空气质(zhi)量(liang);

* 环境健(jian)康和安全;

* 颗粒物表征;

* 光学(xue)显微镜;

* 扫描(miao)电镜(SEM);

* 透射电镜(jing)(TEM/STEM);

* 拉曼光谱(pu);

* FTIR;

* 冶(ye)金行业;

* 先进的材料学和纳米技(ji)术;

* 建筑材料;

* 生物(wu)技(ji)术/医药;

* 刑侦/法(fa)医;


实验室实力:

* 透射电(dian)镜(TEM)/扫描电(dian)镜(SEM);

* 光(guang)学显微(wei)镜(jing);

* 傅里叶红外线光(guang)谱分(fen)析(xi)仪(FTIR);

* 拉曼光谱仪;

* 气相色(se)谱(pu)(GC)/气相色(se)谱(pu)质谱(pu)连用(GCMS);

* 原子吸收光谱;

* 高(gao)效(xiao)液相色谱(pu)(HPLC);

* 电感耦合等(deng)离子体质谱(pu)(ICP-MS);

* 离子色谱(IC);

* 热重(zhong)分析仪(TGA);

* OC/EC分(fen)析仪;

* X射线(xian)衍射仪(XRD);

* X射线荧光光谱(pu)仪(XRF);

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